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四探針測試儀

發(fā)布時間： 2023-08-20 21:01:38 點擊： 574
四探針測試儀是一種用于測量半導體材料電阻率以及薄層電阻的設備。它利用四探針法，在樣品上逐漸減小兩個外側(cè)探針之間的距離，直到內(nèi)側(cè)探針上的電勢變化為止。通過對測得的數(shù)據(jù)進行計算，可以得到樣品的電阻率。該設備通常具有高精度和高分辨率，適用于各種半導體材料和器件的電學性質(zhì)測量。四探針測試儀不僅可以測量材料的電阻率，還可以用于測試薄層電阻、方塊電阻等。